影響光譜量測(cè)套組測(cè)量的因素

　　1.物理干擾

　　物理干擾是指在樣品轉(zhuǎn)移和蒸發(fā)過(guò)程中任何物理因素變化引起的干擾效應(yīng)。屬于此類干擾的因素包括：測(cè)試溶液的粘度、溶劑的蒸氣壓、霧化氣體的壓力等。物理干擾是非選擇性干擾，對(duì)樣品元素的影響基本相似。

　　制備類似于測(cè)試樣品的標(biāo)準(zhǔn)樣品是消除物理干擾的常用方法。當(dāng)樣品的成分未知或無(wú)法匹配時(shí)，可以使用標(biāo)準(zhǔn)添加方法或稀釋方法來(lái)減少和消除物理干擾。

　　2.化學(xué)干擾

　　化學(xué)干擾是指由光譜量測(cè)套組測(cè)試元件與其他組件之間的化學(xué)相互作用引起的干擾效應(yīng)。它主要影響測(cè)試元件的原子化效率，并且是原子吸收分光光度法中干擾的主要來(lái)源。這是由于在液相或氣相中被測(cè)元素的原子與干擾物質(zhì)的組成之間形成了熱力學(xué)更穩(wěn)定的化合物，這影響了被測(cè)元素化合物的離解和原子化。

　　消除化學(xué)干擾的方法包括：化學(xué)分離;使用高溫火焰;加入釋放劑和保護(hù)劑等。

　　3.電離干擾

　　高溫下原子的電離會(huì)降低基態(tài)原子的濃度，并導(dǎo)致原子吸收信號(hào)降低，這種干擾稱為電離干擾。電離效應(yīng)隨溫度和電離平衡常數(shù)的增加而增加，而隨被測(cè)元素濃度的增加而減小。添加更容易電離的堿金屬元素可以有效消除電離干擾。

　　4.光譜干擾

　　光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在非吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當(dāng)采用銳線光源和交流調(diào)制技術(shù)時(shí)，前3種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射地影響，它們是形成光譜背景的主要因素。

　　5.分子吸收干擾

　　分子吸收干擾是指由原子化過(guò)程中產(chǎn)生的氣體分子，氧化物和鹽分子吸收輻射引起的干擾。光散射是指在霧化過(guò)程中生成的固體顆粒會(huì)散射光，從而使光譜量測(cè)套組散射光偏離光路，并且無(wú)法被檢測(cè)器檢測(cè)到，從而導(dǎo)致高吸收值。